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一、普通線圈測試模式

匝間耐壓測試儀對被測線圈進行測試。

液晶顯示器的波形顯示區(qū)右下角顯示“NORMAL”字符表示非外部“RS232”附件的常規(guī)模式。

1. 任何時候按下測試鍵，“測試”字符高亮（即白底藍字）儀器進入待測狀態(tài)。

載入的為上一次測試時的標準波形及其參數(shù)。若需更換標準波形及其參數(shù)，請先進入載入狀態(tài)加載相應編號的標準波形及其參數(shù)；或進入編輯狀態(tài)重新編輯標準波形及其參數(shù)。

測試狀態(tài)下，ESC鍵可用作顯示刷新確認。

2. 將高壓測試端頭可靠地連接到被測線圈兩端。

3. 按下啟動START鍵（或由外部設備給出“START”信號）儀器測試啟動。

每測試一次液晶顯示器即顯示測試波形及其判斷結果。

沖擊次數(shù)設定為1~99范圍時，測試結果若有不合格或測試次數(shù)到時儀器停止測試，進入待測狀態(tài)。沖擊次數(shù)設定為連續(xù)INT方式時，儀器連續(xù)測試。只有按下停止鍵時，儀器停止測試，進入待測狀態(tài)。

4. 測試結果的顯示方法：

對已選擇的判斷項全部合格時，顯示“合格”。若有一項不合格時顯示“不合格”，參數(shù)高亮顯示。對已選擇的判斷項顯示計算結果，未選擇的判斷項顯示“OFF”。詳細信息可進入查詢狀態(tài)下進行查詢。

“A”代表“AREA SIZE”： 面積比較

“D”代表“DIFF AREA”： 面積差比較

“F”代表“FLUTTER VALUE”： 電暈放電量比較

“C”代表“ZERO CROSS”： 相位比較

5. HANDER控制口方式時，對于多繞組的線圈測試，在一個繞組測試完畢，需由外部設備給出“READY”信號置位，退出測試，方可啟動另一繞組的測試。

6. 出現(xiàn)不合格繞組時（不合格聲響方式），伴隨有聲光報警，按下停止鍵（或由外部設備給出“STOP”信號），報警結束，并準備下一次測試。

7. 任何時候按下停止鍵（或由外部設備給出“STOP”信號），儀器停止測試,進入待測狀態(tài)。

二、快速測試模式（普通線圈、三相電機）

00號存儲單元為快速測試模式特定單元。快速測試模式下，調(diào)節(jié)▲、▼鍵，不同選擇（0~7檔：即不同采樣頻率）的波形會顯示在波形顯示區(qū)，當出現(xiàn)理想波形后，只有按下OK鍵,當前波形方可被存儲為標準波形。

2.1普通線圈快速測試模式

1． 載入00號存儲單元（快速測試專用）的設置，儀器進入快速測試待測狀態(tài)。

2． 連接好被測線圈繞組。

3． 按下啟動START鍵（或由外部腳踏開關給出“START”信號）儀器測試啟動。

4． 按下OK鍵,當前波形被存儲為標準波形。OK鍵確認前，可調(diào)節(jié)▲、▼鍵進行波形選擇。

5． 其他基本操作參照4.1.1 普通線圈測試模式。

2.2三相電機快速測試模式

1． 載入00號存儲單元（快速測試專用）的設置，儀器進入快速測試待測狀態(tài)。

2． 連接好三相電機繞組中任意一組線圈。

3． 按下啟動START鍵（或由外部腳踏開關給出“START”信號）儀器測試啟動。

4． 按下OK鍵,當前波形被存儲為標準波形。OK鍵確認前，可調(diào)節(jié)▲、▼鍵進行波形選擇。

5． 再依次接上另外二組線圈分別進行測試。基本操作參照4.1.1 普通線圈測試模式。

三、RS232附件測試模式（多繞組型）

對多繞組線圈進行測試。

1． 當RS232附件（多通道轉(zhuǎn)換器）插上時，儀器自動進入RS232附件測試模式。液晶顯示器的波形顯示區(qū)右下角“NORMAL”字符改顯外部“RS232”附件模式字符。

2． RS232附件多繞組測試模式時，相關存儲單元按照相應RS232附件要求調(diào)入。若相關存儲單元組中有繞組單元沒有編輯過，則調(diào)入時顯示器右上角會顯示“沒有編輯波形參數(shù)”以提示用戶應對該繞組進行編輯操作。 [即：此時按下編輯鍵轉(zhuǎn)入編輯狀態(tài)，再按下▼光標健至波形選擇（采樣頻率SF），調(diào)節(jié)?、?光標鍵至波形選擇參數(shù)處,調(diào)節(jié)▲、▼光標鍵，不同采樣頻率的波形會顯示在波形顯示區(qū)，當出現(xiàn)理想波形后，再按下OK鍵保存并退出至待測狀態(tài)。]

3． RS232附件測試模式時，標準波形及參數(shù)按外部RS232信號進行控制和調(diào)入，并進行測試。RS232附件功能及操作按其附件具體說明書進行。

4． 其他基本操作參照4.1.1 普通線圈測試模式及4.1.2.1 普通線圈快速測試模式。

四、腳控(FOOT CONTROL)使用

1. 當腳控連接好時,外部腳控優(yōu)先,面板START鍵被屏蔽。取消腳控連接，面板START鍵恢復。

2. 測試狀態(tài)下，當腳控踏下時，其功能相當于面板START鍵，但只有當腳控放開后，第二次啟動方才有效。

3. 測試狀態(tài)下，當腳控放開時，其功能相當于面板STOP鍵。

五、載入

調(diào)出已經(jīng)存儲過的波形及參數(shù)。

1． 任何時候按下載入鍵，儀器進入載入狀態(tài)。

其中： No ——編號

NAME ——代號

    HV ——脈沖電壓

SF(ST) ——采頻率樣 (周期) [即：波形選擇]

PLS   ——沖擊脈沖次數(shù)

A   ——面積判別

D   ——面積差判別

F   ——電暈放電量判別

C   ——相位判別

2． 移動▲、▼光標健，選定編號，按OK鍵確認，該波形被選定，并且轉(zhuǎn)入待測狀態(tài)；按ESC鍵直接退出，不選定任何波形，并且轉(zhuǎn)入待測狀態(tài)。

3． 00號存儲單元為三相電機專用單元。01~99存儲單元為普通線圈存儲單元。

六、編輯

標準波形及參數(shù)編輯

對某一種線圈的測試，首先要根據(jù)測試模式（普通線圈或RS232附件模式）進行標準線圈的波形采集，并且依此為根據(jù)來判斷其它線圈的優(yōu)劣。

任何時候按下編輯鍵，儀器進入編輯狀態(tài)。

將高壓測試端頭可靠地連接到標準線圈兩端。

當設定項高亮（即白底藍字）時，調(diào)節(jié)▲、▼光標鍵轉(zhuǎn)入相應設定項目--沖擊電壓、波形選擇（采樣頻率）、沖擊次數(shù)、面積比較、面積差比較、電暈量比較、相位比較、保存。

2． 設定測試條件：

a） 設置沖擊電壓HV值：

調(diào)節(jié)?、?光標鍵，移動光標到HV電壓參數(shù)處，相應數(shù)字被選中（高亮），用▲、▼光標鍵調(diào)節(jié)電壓到所需電壓值，?、?光標鍵移到下一項時，所調(diào)節(jié)數(shù)字被確認。

b） 波形選擇（設置波形采樣頻率SF值）：

0~7檔分別代表波形采樣頻率SF值：10MHz/1、10MHz/2、10MHz/4、10MHz/8、10MHz/16、10MHz/32、10MHz/64、10MHz/128。

調(diào)節(jié)?、?光標鍵，移動光標到波形選擇（采樣頻率SF）參數(shù)處,測試儀進入波形采集狀態(tài)：。

調(diào)節(jié)▲、▼光標鍵，不同采樣頻率的波形會顯示在波形顯示區(qū)，當出現(xiàn)理想波形后，當?、?光標鍵移到下一項時，所選波形被確認。

c） 設置沖擊次數(shù)PLS：

調(diào)節(jié)?、?光標鍵，移動光標到脈沖沖擊次數(shù)PLS參數(shù)處，通過▲、▼光標鍵設定脈沖沖擊次數(shù)，當?、?光標鍵移到下一項時，所設定數(shù)字被確認。

脈沖沖擊次數(shù)設定范圍是1~99次，當超過99次時，沖擊次數(shù)為連續(xù)INT。（連續(xù)方式時，按下停止鍵,儀器即可停止測試并進入待測狀態(tài)。）

3． 設定判斷條件：

線圈質(zhì)量檢查判斷有4種方法（面積比較法、面積差比較法、電暈放電量比較法、相位比較法）。

四種判斷方法可以組合使用，也可以單獨使用。當選用某種方法時，其選擇標記為?（或“Y” YES）；當禁用某種方法時，其選擇標記為：?（或“N”NO）。選擇時，光標移至選擇標記處，通過調(diào)節(jié)▲、▼光標健在?、?之間切換。?、?光標鍵移到下一項時，所選標記被確認。

設定判斷方法中進行數(shù)字調(diào)整時，除有數(shù)字指示外，在波形上還有游標指示，使調(diào)節(jié)更加形象直觀。

a) 面積比較法（AREA SIZE）：

通過比較波形與中線所包圍的面積差異來判斷測試波形與標準波形的重合程度。

對應面積比較(A)第一個參數(shù)：判斷的起點；第二個參數(shù)：判斷的終點；第三個參數(shù)：差異范圍，單位：百分比%。(通常初始設定范圍在10~20%)

參數(shù)的數(shù)值調(diào)節(jié)方法同電壓調(diào)節(jié)。

測試時，脈沖式線圈測試儀對設定范圍內(nèi)的波形面積進行比較，超出差異范圍設定值則不合格。

b) 面積差比較法（DIFFERENTIAL AREA）：

通過標準波形與測試波形所包圍的面積與標準波形面積的值來判斷與標準波形的重合程度。

對應面積差比較（D）第一個參數(shù)：判斷的起點；第二個參數(shù)：判斷的終點；第三個參數(shù)：差異范圍，單位：百分比%。(通常初始設定范圍在10~20%)

數(shù)字的調(diào)節(jié)方法同電壓調(diào)節(jié)。

測試時，脈沖式線圈測試儀根據(jù)測試波形與標準波形的差異來計算面積差，當面積差與標準波形的面積比值超過設定值則不合格。

c) 電暈放電量比較法（FLUTTER VALUE）：

通過對被測線圈選定范圍內(nèi)實測波形包含的電暈放電尖峰中所檢出高頻成分面積(積分)的計算，并將計算結果與設定值進行比較，判定電暈放電量是否合格。

對應電暈量比較（F）的第一個參數(shù)：判斷的起始點；第二個參數(shù)：判斷的終止點；第三個參數(shù)：差值范圍。(通常初始設定范圍在20左右)

數(shù)字的調(diào)節(jié)方法同電壓調(diào)節(jié)。

通過對被測線圈波形包含的電暈放電尖峰中所檢出高頻成分面積(積分)的計算，并將計算結果與設定值進行比較，當差值范圍超過設定值則不合格。

d) 相位比較法（ZERO CROSS過零點比較法）：

通過對過零點的位置差異來判斷與標準波形的重合程度。

對應相位比較（C）第一個參數(shù)：所選定的過零點；第二個參數(shù)：差值范圍，單位為采樣點數(shù)。

數(shù)字的調(diào)節(jié)方法同電壓調(diào)節(jié)。

液晶顯示波形第一個過零點為電容放電的過零點，第二個過零點為線圈的自激振蕩，所以設定條件應從第二過零點開始，測試時，當所測試的線圈過零點的位置超過設定值則不合格。

4． 編輯保存：

a） 設定編號：

調(diào)節(jié)?、?光標鍵，移動光標到設定編號No指示處，通過▲、▼光標健設定標準波形編號值，?、?光標鍵移到下一項時，所設定方式被確認。

00編號的存儲單元為快速測試專用存儲單元。01~99編號的存儲單元為普通線圈存儲單元。

b） 設定名稱：

調(diào)節(jié)?、?光標鍵，移動光標到設定名稱NAME指示處，通過▲、▼光標健選擇0~9數(shù)字或A~Z英文字符，?、?光標鍵移到下一項時，所設定方式被確認。

名稱由4位0~9數(shù)字和（或）A~Z26英文字符組成。每一位字符選擇同上。

c） 標準波形及參數(shù)的儲存

按ESC鍵，儀器提示“需要保存編輯內(nèi)容嗎？”，此時按ESC鍵，不保存并退出至待測狀態(tài)。

按OK鍵，若編輯的是未存儲過的單元（編號），編輯結果保存并退出至待測狀態(tài)；若編輯的是已存儲過的單元，儀器會提示“確定覆蓋XX號單元嗎？”，此時按OK鍵保存并退出至待測狀態(tài)；按ESC鍵，返回至設定編號及名稱，以便重新設定。

再按OK、ESC鍵重復以上操作。本儀器最多可以存儲100個標準波形及參數(shù)。

d） 外部RS232附件多繞組方式時，存儲單元編號按照01與05一組、06與10一組……96與99一組（共20組）規(guī)律存儲。

5． 標準波形修改：

a） 從載入處選擇要修改的波形編號并確認，轉(zhuǎn)入待測狀態(tài)。

b） 進入編輯狀態(tài)，進行編輯操作。

七、特殊設定

聲響設置

a) 特殊設定狀態(tài)下，調(diào)節(jié)?、?光標鍵，移動光標到聲響設定指示處，聲響方式高亮顯示在液晶顯示屏的右上角。

b) 聲響設置狀態(tài)下，通過▲、▼光標健選擇并確認聲響方式（合格聲響、不合格聲響、靜音、混合聲響）。

八、查詢

按下查詢鍵，儀器進入查詢狀態(tài)。

1． 查詢當前標準波形的參數(shù)設置。

2． 查詢當前被測波形及其與標準波形的比較結果。

九、清除

刪除已經(jīng)儲存的波形及參數(shù)。

1. 任何時候按下清除鍵，儀器進入清除狀態(tài)。

液晶顯示器顯示所存儲的標準波形的編號及其參數(shù),并給出刪除模式：“選擇清除”、“全部清除”。

2. 全部清除

刪除所有存儲波形，需慎重操作。

調(diào)節(jié)?、?光標鍵，移動光標到“全部清除”處（儀器提示：確定全部刪除嗎？或Are You Sure？），按下OK鍵全部刪除，按下ESC鍵返回。

3. 選擇清除

刪除所選擇編號波形。

調(diào)節(jié)?、?光標鍵，移動光標到“選擇清除”處，通過▲、▼光標健選擇所要刪除的波形，按下OK鍵刪除，按下ESC鍵返回。

4. 退出

任何時按下ESC鍵退出并轉(zhuǎn)入待測狀態(tài)。

調(diào)節(jié)?、?光標鍵，移動光標到“退出”處，按下OK鍵退出并轉(zhuǎn)入待測狀態(tài)。

5. 保留單元

00號存儲單元為系統(tǒng)保留單元，儀器在任何清除狀態(tài)下00號存儲單元也不會被清除。